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涂層測厚儀影響測量精度的詳細原因分析

日期:2024-11-24 07:27
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摘要:
涂層測厚儀影響測量精度的詳細原因分析
1) 基體金屬的導磁率和電導率對測量有影響; 可直接用未涂(鍍)的被測零件或去除涂(鍍)層的被測零件作為基板進行校準,可消除影響;
2) 任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有超過這個厚度,測量值才不會受到基體金屬厚度的影響;*好可直接用小于臨界厚度的被測零件作為基板進行校準,可消除影響;
3) 測厚儀對工件測定存在邊緣效應,即對工件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測量是不可靠的;若想得到正確厚度值,可直接在被測位子進行校準,可減少影響;
4) 試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大; 可直接在被測位子進行校準,可減少影響;
5) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
6) 測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測量前應**測頭和覆蓋層表面的污物;測量時應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸。